Laboratórium mikroskopie AFM/MFM

Mikroskopia atomárnych síl (AFM - Atomic Force Microscopy) je metóda, ktorá umožňuje skúmať vlastnosti povrchov vzoriek s vysokým priestorovým rozlíšením. Táto metóda je založená na meraní silovej interakcie pôsobiacej medzi sondou a povrchom vzorky. Sondu predstavuje ostrý hrot umiestnený na voľnom konci pružného nosníka. Tá je následne privedená do bezprostrednej blízkosti povrchu vzorky. Mechanické zmeny nosníka vyvolané pôsobením atomárnych síl sa detekujú optickým systémom. Mikroskopia magnetických síl (MFM - Magnetic Force Microscopy) je režim prevádzky atómového silového mikroskopu v ktorom možno mapovať gradient magnetického pola nad povrchom vzorky.